Atómový silový mikroskop s príslušenstvom
SPM (Scanning Probe Microscope) systém na báze AFM (Atomic Force Microscope) zahŕňajúci STM (Scanning Tunneling Microscope) podporujúci merania v minimálne týchto vymenovaných 7-ich meracích módoch: kontaktný, semikontaktný, nekontaktný, režim bočných síl, MFM, EFM a KFM). Systém musí umožňovať merania v kvapalinách, v enviromentálnej komore a v gloveboxe, a musí umožňovať reguláciu teploty v rozsahu minimálne od -30°C do 250°C s presnosťou lepšou ako 0,03°C.
Termín
Lehota na predkladanie ponúk bola 2013-03-04.
Verejné obstarávanie bolo zverejnené na 2013-01-16.
Dodávatelia
V rozhodnutiach o udelení zákazky alebo v iných dokumentoch o verejnom obstarávaní sú uvedení títo dodávatelia:
Kto?
Čo?
Kde?
História obstarávania
| Dátum |
Dokument |
| 2013-01-16
|
Oznámenie o vyhlásení verejného obstarávania
|
| 2013-08-07
|
Oznámenia o zadaní zákazky
|