Obstarávanie: Mikroskopy s tmavým poľom a mikroskopy so skenovacou sondou
4 archivované verejné obstarávania
Mikroskopy s tmavým poľom a mikroskopy so skenovacou sondou obstarali organizácie ako napr Fyzikálny ústav SAV a Ústav experimentálnej fyziky SAV.
V minulosti boli dodávatelia v tejto oblasti H Test Slovakia, spol. s r.o. a Monogram Technologies, spol. s r.o..
- Laboratórne, optické a presné prístroje a vybavenie (s výnimkou skiel) (10 nové verejné obstarávania)
- Kontrolné a testovacie prístroje (3)
- Mikroskopy (1)
- Mikroskopy s tmavým poľom a mikroskopy so skenovacou sondou ⬅️
Nedávne verejné obstarávania na mikroskopy s tmavým poľom a mikroskopy so skenovacou sondou v Slovensko
2013-11-17
Prístroje a zariadenia pre komplexné laboratórium iónového a rtg rozptylu (Fyzikálny ústav SAV)
Zariadenie pre malouhlový rtg rozptyl s mikrofokusným zdrojom rtg žiarenia. Rastrovací elektrochemický mikroskop SECM. Urýchľovač iónov s urýchľovacím napätím min. 1.7 MeV s príslušenstvom iónových zdrojov, zväzkových trás s príslušnou iónovou optikou a terčovou komorou, a riadiacou a zberovou elektronikou. Multimediálne vedecké laboratórium. Centrálna technologická miestnosť. Zobraziť verejné obstarávanie »
Zariadenie pre malouhlový rtg rozptyl s mikrofokusným zdrojom rtg žiarenia. Rastrovací elektrochemický mikroskop SECM. Urýchľovač iónov s urýchľovacím napätím min. 1.7 MeV s príslušenstvom iónových zdrojov, zväzkových trás s príslušnou iónovou optikou a terčovou komorou, a riadiacou a zberovou elektronikou. Multimediálne vedecké laboratórium. Centrálna technologická miestnosť. Zobraziť verejné obstarávanie »
2013-06-30
Prístroje a zariadenia pre komplexné laboratórium iónového a rtg rozptylu (Fyzikálny ústav SAV)
Zariadenie pre malouhlový rtg rozptyl s mikrofokusným zdrojom rtg žiarenia. Rastrovací elektrochemický mikroskop SECM. Urýchľovač iónov s urýchľovacím napätím min. 1.7 MeV s príslušenstvom iónových zdrojov, zväzkových trás s príslušnou iónovou optikou a terčovou komorou, a riadiacou a zberovou elektronikou. Multimediálne vedecké laboratórium. Centrálna technologická miestnosť. Zobraziť verejné obstarávanie »
Zariadenie pre malouhlový rtg rozptyl s mikrofokusným zdrojom rtg žiarenia. Rastrovací elektrochemický mikroskop SECM. Urýchľovač iónov s urýchľovacím napätím min. 1.7 MeV s príslušenstvom iónových zdrojov, zväzkových trás s príslušnou iónovou optikou a terčovou komorou, a riadiacou a zberovou elektronikou. Multimediálne vedecké laboratórium. Centrálna technologická miestnosť. Zobraziť verejné obstarávanie »
2013-06-26
Prístroje a zariadenia pre komplexné laboratórium iónového a rtg rozptylu (Fyzikálny ústav SAV)
— zariadenie pre malouhlový rtg rozptyl s mikrofokusným zdrojom rtg žiarenia, — rastrovací elektrochemický mikroskop SECM, — urýchľovač iónov s urýchľovacím napätím min. 1.7 MeV s príslušenstvom iónových zdrojov, zväzkových trás s príslušnou iónovou optikou a terčovou komorou, a riadiacou a zberovou elektronikou, — multimediálne vedecké laboratórium, — centrálna technologická miestnosť. Zobraziť verejné obstarávanie »
— zariadenie pre malouhlový rtg rozptyl s mikrofokusným zdrojom rtg žiarenia, — rastrovací elektrochemický mikroskop SECM, — urýchľovač iónov s urýchľovacím napätím min. 1.7 MeV s príslušenstvom iónových zdrojov, zväzkových trás s príslušnou iónovou optikou a terčovou komorou, a riadiacou a zberovou elektronikou, — multimediálne vedecké laboratórium, — centrálna technologická miestnosť. Zobraziť verejné obstarávanie »
2013-01-16
Atómový silový mikroskop s príslušenstvom (Ústav experimentálnej fyziky SAV)
SPM (Scanning Probe Microscope) systém na báze AFM (Atomic Force Microscope) zahŕňajúci STM (Scanning Tunneling Microscope) podporujúci merania v minimálne týchto vymenovaných 7-ich meracích módoch: kontaktný, semikontaktný, nekontaktný, režim bočných síl, MFM, EFM a KFM). Systém musí umožňovať merania v kvapalinách, v enviromentálnej komore a v gloveboxe, a musí umožňovať reguláciu teploty v rozsahu minimálne od -30°C do 250°C s presnosťou lepšou ako 0,03°C. Zobraziť verejné obstarávanie »
SPM (Scanning Probe Microscope) systém na báze AFM (Atomic Force Microscope) zahŕňajúci STM (Scanning Tunneling Microscope) podporujúci merania v minimálne týchto vymenovaných 7-ich meracích módoch: kontaktný, semikontaktný, nekontaktný, režim bočných síl, MFM, EFM a KFM). Systém musí umožňovať merania v kvapalinách, v enviromentálnej komore a v gloveboxe, a musí umožňovať reguláciu teploty v rozsahu minimálne od -30°C do 250°C s presnosťou lepšou ako 0,03°C. Zobraziť verejné obstarávanie »