2013-06-30Prístroje a zariadenia pre komplexné laboratórium iónového a rtg rozptylu (Fyzikálny ústav SAV)
Zariadenie pre malouhlový rtg rozptyl s mikrofokusným zdrojom rtg žiarenia.
Rastrovací elektrochemický mikroskop SECM.
Urýchľovač iónov s urýchľovacím napätím min. 1.7 MeV s príslušenstvom iónových zdrojov, zväzkových trás s príslušnou iónovou optikou a terčovou komorou, a riadiacou a zberovou elektronikou.
Multimediálne vedecké laboratórium.
Centrálna technologická miestnosť.
Zobraziť verejné obstarávanie »
2013-06-26Prístroje a zariadenia pre komplexné laboratórium iónového a rtg rozptylu (Fyzikálny ústav SAV)
— zariadenie pre malouhlový rtg rozptyl s mikrofokusným zdrojom rtg žiarenia,
— rastrovací elektrochemický mikroskop SECM,
— urýchľovač iónov s urýchľovacím napätím min. 1.7 MeV s príslušenstvom iónových zdrojov, zväzkových trás s príslušnou iónovou optikou a terčovou komorou, a riadiacou a zberovou elektronikou,
— multimediálne vedecké laboratórium,
— centrálna technologická miestnosť.
Zobraziť verejné obstarávanie »
2013-01-16Atómový silový mikroskop s príslušenstvom (Ústav experimentálnej fyziky SAV)
SPM (Scanning Probe Microscope) systém na báze AFM (Atomic Force Microscope) zahŕňajúci STM (Scanning Tunneling Microscope) podporujúci merania v minimálne týchto vymenovaných 7-ich meracích módoch: kontaktný, semikontaktný, nekontaktný, režim bočných síl, MFM, EFM a KFM). Systém musí umožňovať merania v kvapalinách, v enviromentálnej komore a v gloveboxe, a musí umožňovať reguláciu teploty v rozsahu minimálne od -30°C do 250°C s presnosťou lepšou ako 0,03°C.
Zobraziť verejné obstarávanie » Uvedení dodávatelia:H Test Slovakia, spol. s r.o.