2025-07-30   Systém skenovacej elektrónovej mikroskopie (SEM) vybavený FIB, 3D-EBSD, 3D-EDS detektormi a Spektrometrom na súčasné... (Ústav materiálového výskumu Slovenskej akadémie vied, verejná výskumná inštitúcia)
Predmetom zákazky je dodávka, inštalácia a zaškolenie pre prácu, vrátane aplikačného školenia, na zostave skenovacej elektrónovej mikroskopie pozostávajúcej z FIB-SEM mikroskopu s iónovým zväzkom, vybaveným analytickými metódami EDS, EBSD a spektrometrom na súčasné meranie spektier pre rôzne energie. Zariadenie je obstarávané v rámci projektu s názvom „Vývoj a dizajn udržateľných kompozitných materiálov pre hybridný systém skladovania energie založený na Li-ion a redox-prietokových batériách“, ktorý je … Zobraziť verejné obstarávanie »
2019-10-09   FIB – SEM mikroskop pre nanoobrábanie (Slovenská technická univerzita v Bratislave - rektorát)
Zariadenie na SEM pozorovania vzoriek a na prípravu lamiel pre TEM s možnosťou vytvárania nanoštruktúr. Požadované zariadenie musí zabezpečiť kompletný cyklus prípravy lamiel pre TEM. Zobraziť verejné obstarávanie »