Obstarávanie: Ústav materiálového výskumu SAV
3 archivované verejné obstarávania
Ústav materiálového výskumu SAV bola v minulosti kupujúcim laboratórne, optické a presné prístroje a vybavenie (s výnimkou skiel), kontrolné a testovacie prístroje a mikroskopy.
V minulosti boli dodávateľmi pre Ústav materiálového výskumu SAV H Test Slovakia, spol. s r.o. a Specion, s.r.o..
Nedávne verejné obstarávania Ústav materiálového výskumu SAV
2011-07-18
Nanoindentor (Ústav materiálového výskumu SAV)
Nanoindentor na plnoautomatizované meranie tvrdosti masívnych materiálov a tenkých vrstiev metódou inštrumentovanej indentácie v oblasti zaťažení od 0.1 mN do 10 N s programovateľným dvojosým motorizovaným posuvom vzorky s presnosťou 1 μm s možnosťou kontinuálneho cyklického zaťažovania, mapovania mechanických vlastností, merania laterálnych síl a merania pri teplotách do 500°C. Zobraziť verejné obstarávanie »
Nanoindentor na plnoautomatizované meranie tvrdosti masívnych materiálov a tenkých vrstiev metódou inštrumentovanej indentácie v oblasti zaťažení od 0.1 mN do 10 N s programovateľným dvojosým motorizovaným posuvom vzorky s presnosťou 1 μm s možnosťou kontinuálneho cyklického zaťažovania, mapovania mechanických vlastností, merania laterálnych síl a merania pri teplotách do 500°C. Zobraziť verejné obstarávanie »
2011-03-23
"Ramanovský mikroskop", "Optický profilometer/Konfokálny mikroskop" (Ústav materiálového výskumu SAV)
Ramanovský mikroskop - výskumný disperzný mikroskop s minimálne dvoma excitačnými lasermi s regulovateľným výkonom a rôznou vlnovou dĺžkou. Optický profilometer/Konfokálny mikroskop - optický profilometer na báze interferometrie v režimoch fázového posuvu (phase shift interference - PSI) a vertikálneho rastrovania (vertical scanning interferometry - VSI) kombinovaný s konfokálnym mikroskopom a prepínateľný medzi týmito režimami len mechanickou výmenou objektívov a softwarom. Zobraziť verejné obstarávanie »
Ramanovský mikroskop - výskumný disperzný mikroskop s minimálne dvoma excitačnými lasermi s regulovateľným výkonom a rôznou vlnovou dĺžkou. Optický profilometer/Konfokálny mikroskop - optický profilometer na báze interferometrie v režimoch fázového posuvu (phase shift interference - PSI) a vertikálneho rastrovania (vertical scanning interferometry - VSI) kombinovaný s konfokálnym mikroskopom a prepínateľný medzi týmito režimami len mechanickou výmenou objektívov a softwarom. Zobraziť verejné obstarávanie »
2010-09-10
Transmisné elektrónové mikroskopy (Ústav materiálového výskumu SAV)
Transmisný elektrónový mikroskop. Transmisný elektrónový mikroskop (TEM - transmission electron microscope) so Schottky katódou (FEG - field emission gun) a urýchľovacím napätím do 200 kV s vysokou rozlišovacou schopnosťou a s možnosťou chemických analýz pomocou EDX v štandardnom a STEM módoch pre štúdium kovových, keramických a kompozitných materiálov. Zobraziť verejné obstarávanie »
Transmisný elektrónový mikroskop. Transmisný elektrónový mikroskop (TEM - transmission electron microscope) so Schottky katódou (FEG - field emission gun) a urýchľovacím napätím do 200 kV s vysokou rozlišovacou schopnosťou a s možnosťou chemických analýz pomocou EDX v štandardnom a STEM módoch pre štúdium kovových, keramických a kompozitných materiálov. Zobraziť verejné obstarávanie »