Zmluvný výskum – zariadenie pre stanovenie ľubovoľnej orientácie kryštálu VGF GaP

Phostec, s.r.o.

Predmetom zákazky je obstaranie služieb výskumu a vývoja, a to:
— vypracovanie spôsobu určenia kryštalografickej orientácie kryštálu VGF GaP, ktorá je ľubovoľná, t. j. pred meraním nie je známa ani približne, na báze difrakcie RTG žiarenia, pričom meraný materiál môže byť monokryštál v rôznom tvare ako napr. ingot, odrezok ingota, substrát, alebo polykryštál obsahujúci monokryštalické zrná rôznej veľkosti a rôznej orientácie, ktorý bude použitý napr. na výrobu zárodkov pre monokryštalický rast,
— vyvíjané zariadenie bude pozostávať minimálne z dvoch pracovísk, z ktorých prvé pracovisko bude určené pre stanovenie kryštalografickej orientácie objemového materiálu ako napr. ingota resp. časti ingota pred jeho ďalším spracovaním, a druhé pracovisko bude určené pre kontrolu kryštalografickej orientácie spracovaného materiálu VGF GaP ako napr. substrátov VGF GaP,
— prvé uvedené pracovisko bude ďalej spĺňať nasledovné požiadavky:
1) materiál VGF GaP môže byť meraný samostatne alebo spolu s držiakom, pričom váha meraného celku môže byť max. 50 kg a jeho výška max. 300 mm;
2) reprodukovateľnosť merania musí byť na úrovni 0,01° alebo lepšia;
3) doba jedného merania vrátane vyhodnotenia kratšia ako 10 s,
— druhé uvedené pracovisko bude ďalej spĺňať nasledovné požiadavky:
1) zdroj RTG žiarenia spolu s príslušnou RTG optikou musí byť voči meranej vzorke polohovateľný v rozsahu uhla dopadu -20° až +120°, a detektor spolu s príslušnou optikou musí byť voči meranej vzorke polohovateľný v rozsahu uhla odrazu -40° až +170°;
2) reprodukovateľnosť nastavenia týchto uhlov musí byť na úrovni +/- 0,0001° pričom tieto uhly musia byť merané optickým dekodérom priamo na zariadení (nie sprostredkovane cez meranie pohybu motora resp. cez prevody);
3) požadovaná veľkosť vzorky je minimálne kruh o priemere 100 mm;
4) držiak vzorky musí umožňovať polohovanie vzorky v rovine XY v každej osi v rozsahu 100 mm za účelom mapovania vzorky, jej rotáciu v rozsahu +/- 360° a jej náklon v rozsahu +/- 90°;
5) použitá optika musí umožňovať meranie difrakcie a reflektivity vrátane hodnotenia kvality kryštalickej štruktúry v podpovrchovej oblasti ovplyvnenej defektmi mriežky.

Termín
Lehota na predkladanie ponúk bola 2015-01-02. Verejné obstarávanie bolo zverejnené na 2014-11-14.

Kto?

Čo?

Kde?

História obstarávania
Dátum Dokument
2014-11-14 Oznámenie o vyhlásení verejného obstarávania
2014-12-05 Dodatočné informácie
Súvisiace vyhľadávania 🔍