RTG difraktometer pre fázovú a napäťovú analýzu materiálov s príslušenstvom a databázami difrakčných a kryštalografických dát
Predmetom zákazky je dodanie zariadenia určeného na difrakčnú analýzu materiálov s využitím tak klasickej fázovej analýzy, ako aj sledovanie napäťovo-deformačných procesov a textúrnych meraní v povrchových vrstvách materiálov pre výskumné a priemyselné aplikácie. Zariadenie má umožňovať mikrodefektoskopickú analýzu pomocou počítačovej tomografie, alebo ekvivalentný iný spôsob umožňujúci použiť rtg. žiarenie pre 3D zobrazenie objektov s nízkou absorpciou rtg. žiarenia, najmä kompozitov s nekovovou bázou. Súčasťou dodávky budú riadiace počítače a aplikačný SW doplnený o databázy difrakčných a kryštalografických dát vrátane licencie a inštalácie. V príslušenstve budú minimálne 4 rtg. trubice s anódou Cr, Co, Cu a Mo pre zabezpečenie analýzy širokého spektra materiálov. V cene zariadenia je zahrnutá inštalácia a zaškolenie.
Termín
Lehota na predkladanie ponúk bola 2011-12-29.
Verejné obstarávanie bolo zverejnené na 2011-11-28.
Dodávatelia
V rozhodnutiach o udelení zákazky alebo v iných dokumentoch o verejnom obstarávaní sú uvedení títo dodávatelia:
Kto?
Čo?
Kde?
História obstarávania
| Dátum |
Dokument |
| 2011-11-28
|
Oznámenie o vyhlásení verejného obstarávania
|
| 2012-05-30
|
Oznámenia o zadaní zákazky
|